Characterization of Si/SixGey and Si/Ge superlattices (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• Characterization of Si/SixGey and Si/Ge superlattices (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 1996-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• S. Kaciulis, G. Mattogno, V. Olevano, P. Castrucci, M. De Crescenzi, I. Davoli, N. Pinto (1996)
  Characterization of Si/SixGey and Si/Ge superlattices
  in ECASIA’ 95, 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, Montreux, Switzerland, 9-13 October 1995
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• S. Kaciulis, G. Mattogno, V. Olevano, P. Castrucci, M. De Crescenzi, I. Davoli, N. Pinto (literal)

Pagina inizio

• 252 (literal)

Pagina fine

• 255 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Proceedings of ECASIA-95, 6th European Conf. on Applications of Surf. and Interface Analysis (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• University of Camerino, Italy; ICMAT - CNR, Roma, Italy (literal)

Titolo

• Characterization of Si/SixGey and Si/Ge superlattices (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 0-471-95899-9 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• H.J. Mathieu, B. Reihl, D. Briggs (literal)

Editore

• John Wiley & Sons, Ltd., Chichester (Regno Unito) (Editore)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR

• SAULIUS KACIULIS (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR di

• SAULIUS KACIULIS (Unità di personale interno)

Editore di

• John Wiley & Sons, Ltd., Chichester (Regno Unito) (Editore)