ROBERTO BALBONI

Type

• Persona (Classe)

Label

• ROBERTO BALBONI (literal)
• ROBERTO BALBONI (literal)

Subject

• Crystallography (Categoria DBpedia)
• Wave mechanics (Categoria DBpedia)
• Spectroscopy (Categoria DBpedia)
• Atomic physics (Categoria DBpedia)
• Scientific techniques (Categoria DBpedia)

Partecipa a commessa

• Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. ROBERTO BALBONI nell'anno 2007 (Partecipazione a commessa)
• Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. ROBERTO BALBONI nell'anno 2008 (Partecipazione a commessa)

Persona in rapporto

• Rapporto con CNR di DOTT. ROBERTO BALBONI (Rapporto con CNR)

Autore CNR di

• Lattice deformations in strained-silicon rib structures for photonic devices (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
• Microanalisi a raggi X e microdiffrazione a fascio convergente:applicazioni al Silicio (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
• Computer simulation of ion channeling in Si containing structurally relaxed point defects (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Strain field reconstruction in shallow trench isolation structures by CBED and LACBED (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Improving spatial resolution of convergent beam electron diffraction strain mapping in silicon microstructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Quantum effects in silicon for photovoltaic applications (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Structural and analytical characterization by scanning transmission electron microscopy of silicon-based nanostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• HOLZ Line Splitting coupled to a Recursive Procedure. A Tool for the Displacement Field Determination in Nanostructures (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
• Method for determination of the displacement field in patterned nanostructures by TEM/CBED analysis of split high-order Laue zone line profiles (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Techniques for mechanical strain analysis in sub-micrometer structures: TEM/CBED, micro-Raman spectroscopy, X-ray microdiffraction and modeling (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Quantitative thin-film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
• Improved TEM sample preparation by low energy FIB for strain analysis by convergent beam electron diffraction (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Challenges and progress toward a silicon-based multi-microring optical network-on-chip (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
• Software CBED (Progetti) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1725)
• Optical characterization of nanocrystals in silicon rich oxide superlattices and porous silicon (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Strain mapping in deep sub-micron Si devices by convergent beam electron diffraction in the STEM (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
• Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics (Abstract/Poster in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1302)
• Strain induced by Ti salicidation in sub-quarter-micron CMOS devices, as measured by TEM/CBED (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Strain determination in silicon microstructures by combined convergent beam electron diffraction, process, simulation, and micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Study of induced strain in silicon rib structures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Growth and characterization of Si nanodot multilayers in SiC matrix (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
• Wavy growth onset in strain-balanced InGaAs multi-quantum wells (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Application of the parametric bootstrap method to determine statistical errors in quantitative X-ray microanalysis of thin films (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Split HOLZ lines analysis as a tool to map the strain field in patterned nanostructure (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
• Dislocation generation in device fabrication process (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Convergent beam electron diffraction investigation of strain induced by Ti self-aligned silicides in shallow trench Si isolation structures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)

Coautore

• EROS ALBERTAZZI (Unità di personale interno)
• SILVIA MILITA (Persona)
• MARCO BIANCONI (Persona)
• MASSIMO MAZZER (Unità di personale interno)
• LUCIA NASI (Persona)
• SALVATORE MIRABELLA (Unità di personale interno)
• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale esterno)
• ISODIANA CRUPI (Unità di personale interno)
• STEFANO FRABBONI (Unità di personale esterno)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• GIORGIO LULLI (Persona)
• ALESSIA CEDOLA (Persona)
• GABRIELE BOLOGNINI (Unità di personale interno)
• GIULIO PIZZOCHERO (Unità di personale interno)
• SILVIA RUBINI (Persona)
• AGOSTINO DESALVO (Persona)
• MATTEO FERRI (Unità di personale esterno)
• FULVIO MANCARELLA (Unità di personale interno)
• LAURA LAZZARINI (Unità di personale interno)
• STEFANO LAGOMARSINO (Unità di personale interno)
• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• CLAUDIO FERRARI (Persona)
• FAUSTINO MARTELLI (Persona)

Nome

• ROBERTO (literal)

Cognome

• BALBONI (literal)

Afferisce a

• Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM) (Istituto)

Ha pubblicazioni con

• MASSIMO MAZZER (Unità di personale interno)
• GIORGIO LULLI (Persona)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• GIULIO PIZZOCHERO (Unità di personale interno)
• EROS ALBERTAZZI (Unità di personale interno)
• MARCO BIANCONI (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• AGOSTINO DESALVO (Persona)

Http://www.cnr.it/ontology/persone.owl#argomentoDiRicercaSimile

• ALBANO COSSARO (Unità di personale interno)
• LUCA FLOREANO (Persona)
• DZHULIETTA RAU (Unità di personale esterno)
• STEFANO FRANCESCHINI (Persona)
• giacomo diego Gatta (Unità di personale esterno)
• MASSIMO LADISA (Unità di personale interno)
• CARMEN SANTAGATA (Persona)
• DANIELA FERRO (Persona)
• SILVIA LARCHERI (Unità di personale esterno)
• SILVIA GOZZINI (Unità di personale interno)
• ELISABETTA TOGNONI (Unità di personale interno)
• ANNAMARIA MASSONE (Persona)
• ROBERTO SPINIELLO (Unità di personale interno)
• AZENIO SALVETTI (Unità di personale interno)
• VINCENZO PALLESCHI (Persona)
• SERGIO D'ADDATO (Unità di personale esterno)
• ALBERTO VERDINI (Unità di personale interno)
• ANTONIO RUFFINO (Unità di personale esterno)
• Stefano Pagliara (Persona)
• ALBERTO TAGLIAFERRI (Unità di personale esterno)
• RUGGERO VAGLIO (Persona)
• DANUT ADRIAN COJOC (Persona)
• Andrea Palenzona (Unità di personale esterno)
• ANTONIETTA GUAGLIARDI (Persona)
• MICHELE PIANA (Persona)
• MADDALENA PEDIO (Persona)
• GIUSEPPE ONORI (Persona)
• STEFANO ANGIOLO BATTAGLIA (Unità di personale interno)
• ROBERTO GOTTER (Persona)
• ANTTI EERIK KIVIMAKI (Persona)
• ANDREA FARINA (Persona)
• DINO LEPORINI (Unità di personale esterno)
• CARLO OTTAVIANI (Unità di personale interno)
• PIERO TORELLI (Unità di personale interno)
• MARCO SALLUZZO (Persona)
• FRANCESCA BECHERINI (Unità di personale esterno)
• ROBERTO DI CAPUA (Persona)
• MONICA DE SIMONE (Persona)
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• Luciano GALANTINI (Persona)
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• ANNA GALLI (Persona)
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• GIACOMO BALDI (Unità di personale interno)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• MARCOFABIO RIGHINI (Unità di personale interno)
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• MASSIMO MARTINELLI (Persona)
• GABRIELE SALVATO (Persona)
• SILVIA MILITA (Persona)
• ROSSANA CAMILLONI (Unità di personale interno)
• PIETRO MALARA (Persona)
• CINZIA DI FRANCO (Unità di personale interno)
• FRANCESCO GRAZZI (Unità di personale esterno)
• CARLO SPEZZANI (Unità di personale esterno)
• GABRIELE CRISTOFORETTI (Persona)
• ALBERTO MORGANTE (Unità di personale esterno)
• MARCO CALICCHIO (Unità di personale esterno)
• Alessandro RUOCCO (Persona)
• SILVIA CAPONI (Persona)
• FEDERICO BOSCHERINI (Unità di personale esterno)
• CORRADO CROTTI (Unità di personale interno)
• UBALDO BAFILE (Unità di personale interno)
• MARCELLA DELL'AGLIO (Persona)
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• GABRIELE VILIANI (Persona)
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• GABRIELE PRATESI (Persona)
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• LUCA PARDI (Persona)
• Massimiliano Zanichelli (Unità di personale esterno)
• DANIELA SPERA (Unità di personale esterno)
• PASQUALE MADDALONI (Persona)
• Sara Zuzzi (Persona)
• LEONARDO LAMPUGNANI (Unità di personale interno)
• PAOLO POSTORINO (Unità di personale esterno)
• MARCO SERVIDORI (Persona)
• STEFANO LEGNAIOLI (Unità di personale interno)
• VALERIO MAGAZU' (Persona)
• JURI AGRESTI (Unità di personale interno)
• GIANNI MONACO (Unità di personale esterno)
• CATERINA PETRILLO (Persona)

Incoming links:

Autore CNR

• Growth and characterization of Si nanodot multilayers in SiC matrix (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
• Split HOLZ lines analysis as a tool to map the strain field in patterned nanostructure (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
• Improving spatial resolution of convergent beam electron diffraction strain mapping in silicon microstructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Strain mapping in deep sub-micron Si devices by convergent beam electron diffraction in the STEM (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Quantitative thin-film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Strain induced by Ti salicidation in sub-quarter-micron CMOS devices, as measured by TEM/CBED (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Strain determination in silicon microstructures by combined convergent beam electron diffraction, process, simulation, and micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Dislocation generation in device fabrication process (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Application of the parametric bootstrap method to determine statistical errors in quantitative X-ray microanalysis of thin films (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Computer simulation of ion channeling in Si containing structurally relaxed point defects (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Structural and analytical characterization by scanning transmission electron microscopy of silicon-based nanostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Optical characterization of nanocrystals in silicon rich oxide superlattices and porous silicon (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics (Abstract/Poster in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1302)
• Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
• Software CBED (Progetti) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1725)
• Convergent beam electron diffraction investigation of strain induced by Ti self-aligned silicides in shallow trench Si isolation structures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Wavy growth onset in strain-balanced InGaAs multi-quantum wells (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Strain field reconstruction in shallow trench isolation structures by CBED and LACBED (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Method for determination of the displacement field in patterned nanostructures by TEM/CBED analysis of split high-order Laue zone line profiles (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• HOLZ Line Splitting coupled to a Recursive Procedure. A Tool for the Displacement Field Determination in Nanostructures (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
• Techniques for mechanical strain analysis in sub-micrometer structures: TEM/CBED, micro-Raman spectroscopy, X-ray microdiffraction and modeling (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
• Improved TEM sample preparation by low energy FIB for strain analysis by convergent beam electron diffraction (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
• Microanalisi a raggi X e microdiffrazione a fascio convergente:applicazioni al Silicio (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
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• Study of induced strain in silicon rib structures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)

Coautore

• ALESSIA CEDOLA (Persona)
• GIORGIO LULLI (Persona)
• LUCIA NASI (Persona)
• MARCO BIANCONI (Persona)
• SILVIA MILITA (Persona)
• MASSIMO MAZZER (Unità di personale interno)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• ISODIANA CRUPI (Unità di personale interno)
• CLAUDIO FERRARI (Persona)
• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• LAURA LAZZARINI (Unità di personale interno)
• SALVATORE MIRABELLA (Unità di personale interno)
• FAUSTINO MARTELLI (Persona)
• SILVIA RUBINI (Persona)
• GIULIO PIZZOCHERO (Unità di personale interno)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale esterno)
• MATTEO FERRI (Unità di personale esterno)
• AGOSTINO DESALVO (Persona)
• STEFANO LAGOMARSINO (Unità di personale interno)
• EROS ALBERTAZZI (Unità di personale interno)
• STEFANO FRABBONI (Unità di personale esterno)
• http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID12237
• FULVIO MANCARELLA (Unità di personale interno)
• GABRIELE BOLOGNINI (Unità di personale interno)

Ha pubblicazioni con

• GIORGIO LULLI (Persona)
• MARCO BIANCONI (Persona)
• MASSIMO MAZZER (Unità di personale interno)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
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• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• AGOSTINO DESALVO (Persona)
• EROS ALBERTAZZI (Unità di personale interno)
• http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID12237

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• PIERO TORELLI (Unità di personale interno)
• SILVIA MILITA (Persona)
• LUCA PARDI (Persona)
• GIACOMO BALDI (Unità di personale interno)
• PASQUALE MADDALONI (Persona)
• MASSIMO MARTINELLI (Persona)
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• ALBERTO VERDINI (Unità di personale interno)
• ANNAMARIA MASSONE (Persona)
• ROBERTO SPINIELLO (Unità di personale interno)
• CORRADO CROTTI (Unità di personale interno)
• UBALDO BAFILE (Unità di personale interno)
• ANTONIETTA GUAGLIARDI (Persona)
• VINCENZO PALLESCHI (Persona)
• STEFANO ANGIOLO BATTAGLIA (Unità di personale interno)
• CARLO OTTAVIANI (Unità di personale interno)
• ROBERTO GOTTER (Persona)
• ANTTI EERIK KIVIMAKI (Persona)
• MASSIMO LADISA (Unità di personale interno)
• GABRIELE CRISTOFORETTI (Persona)
• ANNA GALLI (Persona)
• ROMAN MARK KRAHNE (Persona)
• SILVIA GOZZINI (Unità di personale interno)
• ELISABETTA TOGNONI (Unità di personale interno)
• SILVIA CAPONI (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• MADDALENA PEDIO (Persona)
• CARMEN SANTAGATA (Persona)
• DINO LEPORINI (Unità di personale esterno)
• GABRIELLA MARIA DE LUCA (Unità di personale esterno)
• ALESSANDRA TONCELLI (Unità di personale esterno)
• Massimiliano Zanichelli (Unità di personale esterno)
• PAOLO POSTORINO (Unità di personale esterno)
• PIETRO MALARA (Persona)
• DANIELA SPERA (Unità di personale esterno)
• MARCO SALLUZZO (Persona)
• SILVIA LARCHERI (Unità di personale esterno)
• CARLO SPEZZANI (Unità di personale esterno)
• SERGIO D'ADDATO (Unità di personale esterno)
• RUGGERO VAGLIO (Persona)
• Andrea Palenzona (Unità di personale esterno)
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• MICHELE PIANA (Persona)
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• ANDREA FARINA (Persona)
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• JURI AGRESTI (Unità di personale interno)
• LEONARDO LAMPUGNANI (Unità di personale interno)
• STEFANO LEGNAIOLI (Unità di personale interno)
• MARCOFABIO RIGHINI (Unità di personale interno)
• DANIELA FERRO (Persona)
• AZENIO SALVETTI (Unità di personale interno)
• GABRIELE PRATESI (Persona)
• ANDREA CANGIANI (Persona)
• EMANUELE ARGESE (Persona)
• GABRIELE VILIANI (Persona)
• Alessandro RUOCCO (Persona)
• VALERIO MAGAZU' (Persona)
• STEFANO FRANCESCHINI (Persona)

Partecipazione di

• Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. ROBERTO BALBONI nell'anno 2008 (Partecipazione a commessa)
• Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. ROBERTO BALBONI nell'anno 2007 (Partecipazione a commessa)

Ha afferente

• Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM) (Istituto)

Rapporto con persona

• Rapporto con CNR di DOTT. ROBERTO BALBONI (Rapporto con CNR)

Http://www.w3.org/2004/02/skos/core#isSubjectOf

• Crystallography (Categoria DBpedia)
• Spectroscopy (Categoria DBpedia)
• Atomic physics (Categoria DBpedia)
• Wave mechanics (Categoria DBpedia)
• Scientific techniques (Categoria DBpedia)